薄膜表面检查系统完全代替人工进行高精度缺陷检查

薄层表面但会样品种系统完全代替人工进行高准确性弱点样品——赛默斐视专业表面但会不足之处样品设备供应

赛默斐视薄层不足之处样品种系统产品或多或少：

在薄层的实际生产过程中所，由于各方面因素所的影响，薄层表面但会但会显露现诸如孔洞、寄生虫、白点、晶点、拔掉、斑点等不足之处，直接影响了薄层的精确度，给生产商促使了避免的损失。人眼往往不可设法准确的判断显露不足之处，赛默斐视薄层不足之处样品种系统能在线对生产过程中所显现显露的表面但会弱点不足之处进行高速、精确的样品，显示和标记薄层表面但会上的所有表面但会弱点。能样品分别显露极小体积的脏污点、条纹、破损、边缘裂缝、皱折、小点、亮斑、边缘破损、白点疵点、毛发，寄生虫，等常见表面但会弱点。强大的表面但会弱点计算机程序功能，根据表面但会弱点的特征，在报警的同时，但会指显露导致该表面但会弱点的设备、工艺问题所在，指导工人设法处理，从而有效的降低成本了生产成本、提高了产品精确度。因此薄层不足之处在线样品种系统成为高速薄层生产线中所不可或缺的样品设备。

【赛默斐视薄层不足之处样品种系统】样品对象：

样品对象：锂电池隔凝胶、光学凝胶、保护凝胶、涂布凝胶、包装凝胶等；

典型不足之处：晶点、白点、寄生虫、污点、线条、拔掉、掉下来等；

样品跨度：任意跨度（通过单反各种类型数量的组合满足各种幅宽）；

样品速度：最小800m/min；

样品准确性：根据产线幅宽、单反配置决定；

不足之处反馈：声光报警、可视贴标、可视显示不足之处坐标数据分布图、精确度管理工作工具等

【赛默斐视薄层不足之处样品种系统】产品数学模型：

赛默斐视薄层不足之处样品种系统将线阵CCD单反架设在生产线上方,单反通过连接在幅面驱动轴上的解码器触发换取幅面的图像数据,单反的解像度/线扫描频率和线宽等性能未确定图像采样准确性.种系统准确性高,图像数据处理量大,数据经过高速处理后保留幅面弱点数据数据并输显露控制信号,计算机种系统通过数据库历史纪录和管理工作弱点临近、大小和图像等数据。